近日，中國計量院成功研制出新型光學二維圖形圓度測量裝置，并通過了專家驗收。

該裝置解決了高精度影像測頭坐標測量機的溯源問題，將圓度測量的標準方法與影像探測技術創新性的結合在儀器，能夠對二維圓圖形高精度圓度校準。該裝置是我國坐標測量機不斷發展的結果，是滿足坐標測量機的校準的新型儀器，能夠進一步推動坐標測量機發展。

圓度誤差測量方法主要用于形狀誤差評價，標準圓圖形一般被用作評價探測誤差的標準器。圓度誤差測量的標準和傳統方法是采用接觸法，利用圓度儀進行測量，但是被測技術僅限于三維。面對標準二維圓圖形圓度的測量則顯得十分無力，只能采用影像坐標法對二維影像測量儀進行校準。

將二者創新性結合起來，解決了零高度二維圖形的圓度測量問題，因此實現了對高精度標準圓圖形的圓度校準。研究人員逐漸攻關了光學系統數值孔徑、光學傳感器噪聲等對分辨力和測量能力的限制等難題，終于研制成功新型光學二維圖形圓度測量裝置，為光學影像測量設備標準器的溯源提供了新途徑。