目前，由全國納米技術標準化技術委員會歸口并由全國納米技術標準化技術委員會蘇州地區工作組組織起草的國家標準計劃項目：20204665-T-491《納米技術 表面增強拉曼固相基片均勻性測定》已進入征求意見階段，現公開廣泛征集意見，截止日期2022年7月15日。
 

　　表面增強拉曼光譜(Surface Enhanced Raman Spectroscopy，SERS)技術靈敏度高，能在痕量濃度范圍內給出關于試樣的結構特征、吸附狀態等豐富信息，在環境檢測、食品安全、生物制藥等領域已顯示出巨大的應用前景。SERS 技術的核心是 SERS 基底，目前常見的SERS基底主要分為液相納米溶膠和固相基片。
 

　　但由于缺乏相關的性能評價標準,市場上的固相SERS基片質量參差不齊,難以獲得市場普遍認可，阻礙了SERS技術的應用發展。因此，建立科學的固相基片質量評價體系是SERS技術應用的關鍵，也是SERS技術當下急需解決的問題。
 

　　《納米技術 表面增強拉曼固相基片均勻性測定》規定了表面增強拉曼固相基片的均勻性測定的原理、儀器要求、樣品準備、表征步驟及結果表示等。
 

　　表面增強拉曼光譜是一種光譜方法，其原理是利用在合適波長的光照射下，吸附在具有納米尺度粗糙度的特定金屬表面的某些分子或納米物體所呈現的拉曼效應增強的現象。觀測到不同程度增強的典型金屬包括Au、Ag、Cu和Al，為了發生增強，表面粗糙度通常在幾十納米范圍內。
 

　　根據標準規定，對于表面增強拉曼基片均勻性的測定，可通過拉曼成像分析法在規定區域內至少100個不同位置處獲取拉曼信號，利用統計分析獲得信號的分布特性，進而推算出拉曼增強基片的均勻性。增強拉曼基片均勻性的測定過程主要包括樣品準備、表征步驟、數據處理、均勻性計算。
 

　　標準規定測定的儀器設備應包括激光共聚焦顯微拉曼儀、超聲分散儀器(功率約不低于100 w)、分析天平(精度不超過0.0001 g)等。
 

　　該文件在制定過程中引用了GB/T 30544.6-2016《納米科技 術語第6部分：納米物體表征》、GB/T 33252-2016《納米技術 激光共聚焦顯微拉曼光譜儀性能測試》、JJF 1544-2015《拉曼光譜儀校準規范》等文件。
 

　　該標準主要起草單位有蘇州英菲尼納米科技有限公司、蘇州市計量測試院、蘇州大學、國家納米科學中心、中國檢驗檢疫科學研究院、姑蘇實驗室等6家單位分別負責標準整體工作、內容核驗和實驗驗證等工作。
 

　　工作組建議，標準發布實施后，積極在納米技術產業領域中涉及表面增強拉曼芯片生產、應用的產業企業中進行廣泛宣貫，以促進標準的實施并對相關產業領域的規范和高效快速發展起到重要的標準化技術支撐作用。