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西安交大團隊發明高分辨成像新方法 可精準成像+實時動態追蹤

儀表網 2021-01-28
儀表網 儀表研發】傳統的熒光顯微成像技術在分辨率上有一定的限制,而激輻射損耗技術 (Stimulated Emission Depletion Microscopy, STED)等超高分辨成像技術,成為了研究人員們尋找解決方案的突破口。
 
  通過借鑒以往的經驗,并不斷摸索新可能,西安交大的科研人員們在高分辨成像領域取得重要進展。
 
  據悉,西安交通大學孟令杰教授團隊針對商用染料聚集態發光亮度低及易光漂白等問題,開發了系列具有高亮度、大斯托克斯位移、優異光學穩定性能的有機熒光材料。在這一基礎上,他們結合STED超高分辨成像技術,實現了構筑材料在亞細胞結構等的精準成像和實時動態追蹤。
 
  摘要中提出,STED技術是一種很有前途的熒光顯微技術,它可以在納米水平上檢測無法分辨的結構,從而在材料科學和生物研究中獲得更高的成像分辨率。然而,除了顯微鏡的優化,發光材料在STED納米技術中對于獲得超高分辨率(小于100 nm)的成像、可視化甚至長期跟蹤也具有重要意義,但這一點很少被總結。
 
  論文文綜述了近年來用于超分辨率成像的STED熒光團的研究進展,包括無機熒光團、熒光蛋白、有機發光材料、聚集誘導發光(AIE)和熒光納米顆粒。這些上述的STED熒光團的特性也被包括在內并進行比較,以提供對發光材料的特性和它們在STED成像中的性能之間的關系的深入理解。
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